Estudios de microscopía óptica de campo cercano y de fuerza atómica en RbTiOPO4 monocristalino con dominios ferroeléctricos

Hemos desarrollado un Microscopio Óptico de Campo Cercano (SNOM) que es capaz de adquirir una señal óptica, al mismo tiempo que la topografía, basado en un sensor de fuerza lateral comercial. Con este microscopio hemos medido la transmisión óptica en campo cercano, así como la topografía, de un cristal de RbTiOPO4, que exhibe dos tipos de dominios ferroeléctricos macroscópicos. Previamente, la muestra había sido sometida a un ataque químico selectivo, con el que se pueden distinguir dos zonas diferentes, una con una rugosidad apreciable (C-) y otra con aspecto perfectamente plano (C+), aspecto que tenía la superficie antes del ataque. Hemos comparado las imágenes de topografía del SNOM con otras tomadas usando un Microscopio de Fuerzas Atómicas, con mayor resolución espacial. Los cambios observados en las medidas de transmisión son debidos a dos tipos de efectos: i) las variaciones en la constante dieléctrica en las paredes de dominios y sus cercanías; ii) la dispersión de luz, dependiente de la longitud de onda, en los granos de la cara C-. Por último, hemos determinado los ángulos que forman las paredes de dominios invertidos, que resultan ser mayores de 90º y bastante cercanos a 135º, en promedio, tal y como se podría esperar, debido a la combinación de las direcciones [1 1 0], [-1 1 0], [1 0 0] y [0 1 0] de la estructura ortorrómbica.

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