Las interacciones elásticas generadas por la presencia de una red biperiódica, de dislocaciones en la interfase de un bicristal han sido simuladas numéricamente, considerando elasticidad anisotropa para cada cristal. La representación de las tensiones próximas a las dislocaciones y del nodo triple de la celda hexagonal, permite detectar la zona de concentración de tensiones debido al campo elástico para el sistema InAS/(111) GaAS, ya que, en los semiconductores, éste es un sistema ideal que muestra la presencia de dislocaciones paralelas a las superficies libres por S.T.M.[1].
Relación estructura-propiedades y estudios espectroscópicos de vidrios de óxido BaO-B2O3 que contienen ZnO para aplicaciones ópticas
En el presente trabajo se prepararon muestras de vidrios de óxido de borato de bario que contienen diferentes proporciones molares de ZnO,
