Entre los métodos topográficos de difracción de rayos X, la técnica Berg-Barrett resulta ser, pese a su simplicidad experimental, una herramienta fundamental para caracterizar la distribución de determinados defectos cristalográficos y, en todo caso, se presenta como una técnica complementaria a la microscopía electrónica de transmisión (MET).
En el presente trabajo, tras exponer una somera revisión de las características generales de un experimento de topografía de rayos X, se analizan algunas de sus aplicaciones más fundamentales (estudio de la subestructura de deformación y análisis de subjuntas de grano).
Relación estructura-propiedades y estudios espectroscópicos de vidrios de óxido BaO-B2O3 que contienen ZnO para aplicaciones ópticas
En el presente trabajo se prepararon muestras de vidrios de óxido de borato de bario que contienen diferentes proporciones molares de ZnO,
