Estructura de dislocaciones en NiO y CoO deformados a muy bajas temperaturas

Se han deformado monocristales de NiO y CoO fabricados por diferentes técnicas a velocidad constante en comprensión a lo largo de la dirección <001> a temperaturas comprendidas entre 4.2 y 300 K para medir la tensión crítica de cizalladura y el volumen de activación. La subestructura de dislocaciones se ha estudiado mediante microscopía electrónica de transmisión. A temperaturas inferiores a 100 K, el deslizamiento de dislocaciones está controlado por un mecanismo de Peierls.

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