Aplicaciones modernas del análisis de rayos X en la industria cerámica y del vidrio

La difracción y la fluorescencia por rayos X se aplican en el desarrollo de nuevos materiales cerámicos y vitreos, así como también a nivel industrial para el control de calidad de las materias primas. Durante el control de proceso, se analizan los concentrados del tratamiento de minerales o los productos intermedios. El análisis de fases mineralógicas y el análisis multielemental por rayos X son métodos no destructivos y respetuosos con el medio ambiente.
Con un espectrómetro de rayos X moderno se pueden analizar todos los elementos desde el berilio a los transuránidos de forma cualitativa, semicuantitativa y cuantitativa en materiales pulverulentos, sólidos o líquidos. Dependiendo de la aplicación, el rango de concentraciones medidas puede variar entre 0,1 ppm y 100%. La gran ventaja del análisis por fluorescencia de rayos X reside en una preparación de muestras sencilla y rápida, una capacidad multielemental de gran precisión y reproductibilidad y tiempos de medida muy cortos. Los cambiamuestras modulares ofrecen un manejo profesional flexible y abierto a todos los conceptos de automatización. Desde el descubrimiento de la radiación de rayos X por Wilhelm Conrad Röntgen, hace unos 100 años, los métodos de medidas analíticas ganaron considerablemente en importancia. En el análisis por rayos X se pueden diferenciar, en principio, el análisis de estructuras y de fases cristalinas por difracción de rayos X (DRX) y el análisis elemental por fluorescencia de rayos X (FRX). En la última década, multitud de pasos innovativos han hecho el moderno análisis por rayos X más efectivo y universal. En 1992 se introdujo en el mercado, como un primer paso, el nuevo espectrómetro secuencial de rayos X Siemens SRS 3000 después de un período de desarrollo muy corto de dos años y medio. En 1993, le siguió el difractómetro de proceso de rayos X Siemens D5000 Matic, y actualmente en 1994, el nuevo espectrómetro multicanal de rayos X Siemens MRS 4000.

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