ANALISIS PO R FLUORESCENCIA DE RAYOSX DE MATERIALES REFRACTARIOS SILICIOSOS, SILICOALUMINOSOS Y DE ALTO CONTENIDO EN ALUMINA.

Se analizan una serie de refractarios a base de sílice y alúmina (siliciosos, silicoaluminosos y de alto
contenido en alúmina) empleando la técnica de fluorescencia de rayos X.
Las muestras se preparan en forma de pastillas prensando el material molido, bien directamente o fundido con metaborato de litio.
Se lleva a cabo un estudio de los resultados comparándolos con los conseguidos por otras técnicas instrumentales y métodos clásicos (absorción atómica, fotometría de llama^ complexometría y gravimetría).

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