Respuesta Raman y de infrarrojo lejano en películas cerámicas de PZT tetragonal

Varias películas gruesas de PbZr0,38Ti0,62O3 (PZT 38/62) y PbZr0,36Ti0,64O3 (PZT 36/64) han sido depositadas mediante serigrafía en sustratos de zafiro y estudiadas mediante espectroscopía de reflectividad en el infrarrojo por transformada de Fourier, espectroscopía de transmisión de terahercios y microespectroscopía Raman. Su respuesta dieléctrica es discutida mediante el modelo de Lichtenecker, que tiene en cuenta la porosidad y es capaz de obtener las funciones dieléctricas efectivas de las películas porosas y también las de las cerámicas densas teóricas. Los resultados son comparados con los obtenidos en cerámicas densas de PZT 42/58. La respuesta dinámica de las películas está dominada por una vibración sobreamortiguada de los átomos de plomo en el rango de terahercios, como es conocido en el material PZT, pero su contribución dieléctrica está afectada por la porosidad y por la rugosidad de la superficie de las películas.

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